利用玻璃熔融片法和XRF熒光光譜儀EDX-9000B分析磷礦石

利用玻璃熔融片法和XRF熒光光譜EDX9000B礦石分析儀測(cè)試磷礦石中主量微量元素

開發(fā)了熔融片XRF法測(cè)定磷礦石中P205,SiO2,CaO,MgO,Fe203,Al203,K20,TiO2,MnO等八種成份.方法簡(jiǎn)便,快速,準(zhǔn)確,能滿足工業(yè)生產(chǎn)分析的要求

關(guān)鍵應(yīng)用

礦石分析儀EDX9000B光譜儀可以處理從幾毫克到更大的散裝樣品的多種樣品類型。

樣品可以測(cè)量包括：

固體

粉餅

散粉

液體

熔珠

泥漿

顆粒劑

薄膜樣品

薄膜和涂料

X 射線熒光技術(shù) (XRF) 光譜儀為測(cè)定多種材料的化學(xué)成分提供了簡(jiǎn)單、最準(zhǔn)確和經(jīng)濟(jì)的分析方法之一。 它無損且可靠，不需要或幾乎不需要樣品制備，適用于固體、液體和粉末樣品。 根據(jù)分析儀的不同，涵蓋的元素范圍從碳 (6) 開始進(jìn)行定性分析，從氟 (9) 開始進(jìn)行定量分析。 涵蓋的原子序數(shù)最高的元素是镅 (95)。 XRF 提供亞 ppm 級(jí)的檢測(cè)限； 它還可以輕松地同時(shí)測(cè)量高達(dá)* 的濃度。

英飛思是制造能量色散 X 射線熒光光譜儀的優(yōu)秀者。 近年來，英飛思通過進(jìn)一步開發(fā) X 射線熒光礦石分析儀技術(shù)設(shè)立了標(biāo)準(zhǔn)，為 ED-XRF 光譜儀創(chuàng)造了許多新的操作領(lǐng)域。

出色的靈敏度可將精度提高多達(dá) 3 倍——這是分析次要元素到主要元素濃度時(shí)實(shí)現(xiàn)高精度的基礎(chǔ)

測(cè)量比以往任何時(shí)候都低：自適應(yīng)激發(fā)、*管設(shè)計(jì)和高計(jì)數(shù)吞吐量檢測(cè)系統(tǒng)顯著（通常是因子 3）降低了各種元素的檢測(cè)限

掌握未知：FPXRF 軟件工具提供了優(yōu)秀的分析未知樣品的能力，無論它們是液體、固體還是粉末——無論是樹葉、塑料、油、花崗巖還是玻璃……