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2025-04-01
X熒光鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析原理的高精度檢測儀器,可無損測量金屬鍍層、涂層及合金層的厚度與成分。其通過發(fā)射初級X射線激發(fā)樣品表面,檢測二次熒光輻射強度,結(jié)合基材與鍍層元素的特征譜線,實現(xiàn)納米級至微米級厚度的快速測定。了解X熒光鍍層測厚儀各個組成部件的功能特點,對于正確...2024
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